Labthink蘭光 | CHY-CA測厚儀的標(biāo)定指南
CHY-CA測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。
標(biāo)定原因：
- 測試數(shù)據(jù)偏移太大。
- 儀器長期不用。
標(biāo)定前準(zhǔn)備工作：
- 標(biāo)定前，觀察水平泡，調(diào)節(jié)儀器的水平。
- 工作臺應(yīng)穩(wěn)固，儀器周圍不應(yīng)有干擾，包括震動和來自空調(diào)的風(fēng)吹。
- 電源必須為AC220V，50Hz/60Hz，且良好接地。零線與地線不能混用，也不能接在一起。避免與大功率設(shè)備共用一個線路。
- 儀器工作環(huán)境應(yīng)無塵。
- 清潔測量頭、量塊和下砧鐵等部分。務(wù)必使用脫脂棉球蘸上高純度酒精輕輕地將測量頭、量塊和下砧鐵等有可能接觸試樣的表面全部擦拭干凈，晾干后再用干棉球進(jìn)一步擦干凈酒精中有可能殘留在量塊上的水跡。不能用手或其他夾持工具直接接觸量塊的兩個表面。
- 儀器預(yù)熱至少30分鐘。
標(biāo)定：
1、預(yù)熱結(jié)束，進(jìn)入“系統(tǒng)校正”界面。
2、使用上下箭頭鍵，輸入密碼555。
3、零點(diǎn)標(biāo)定。按“置零”鍵落下測量頭，再按左右“箭頭”鍵把光標(biāo)移至“零點(diǎn)”處，此時的顯示值若不是0，應(yīng)按上下“箭頭”鍵調(diào)至0。（正常情況下，AD值應(yīng)在-32000至-39000之間，如不在此范圍，請立即與我們聯(lián)系。）然后按“手動”鍵使測量頭升起，再按“置零”鍵落下測量頭，查看顯示值是否仍在±0.5μm范圍內(nèi)，如果不是需要再次調(diào)整。這樣反復(fù)五次左右，待零點(diǎn)顯示確實穩(wěn)定后，按“確認(rèn)”鍵確認(rèn)，記憶零點(diǎn)。此時，零點(diǎn)標(biāo)定結(jié)束。（在按上下箭頭調(diào)整數(shù)值時，不一定每次都有變化，需要反復(fù)按幾次或按住不動，直至達(dá)到所需要的數(shù)值。）
4、終點(diǎn)標(biāo)定。按“手動”鍵升起測量頭，輕輕把標(biāo)準(zhǔn)量塊放到砧鐵的中央位置（無論是用手拿還是用其它器具夾持量塊，都不可接觸量塊的兩個工作面），要注意放置量塊時不能觸動測量頭、測量桿。把光標(biāo)移至“終點(diǎn)”處，按“置零”鍵落下測量頭，此時的顯示值應(yīng)為標(biāo)準(zhǔn)量塊的實際厚度500±0.5μm，若不是應(yīng)按上下箭頭鍵調(diào)至該值。然后按“手動”鍵升起測量頭，再按“置零”鍵下落測量頭，繼續(xù)查看終點(diǎn)顯示數(shù)值是否在500±0.5μm范圍內(nèi)，如果不是需要再次調(diào)整。這樣反復(fù)五次左右，待終點(diǎn)顯示確實穩(wěn)定后，按“確認(rèn)”鍵記憶終點(diǎn)后退出。至此標(biāo)定過程結(jié)束。
注意事項：
- 為保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，標(biāo)定過程中嚴(yán)禁有震動。
- 如果重復(fù)測量了幾次零點(diǎn)與終點(diǎn)后，試驗結(jié)果仍達(dá)不到要求（測量值的波動應(yīng)5次以上保持在±0.5μm以內(nèi)），那么退出“系統(tǒng)校正”界面。再次清潔量塊，測量頭，砧鐵之后，重復(fù)上述標(biāo)定步驟。
- 儀器標(biāo)定應(yīng)定期進(jìn)行。但如果測試數(shù)據(jù)出現(xiàn)明顯漂移，請立即進(jìn)行標(biāo)定。我們提供的是“00”級標(biāo)準(zhǔn)量塊，該量塊應(yīng)定期到當(dāng)?shù)赜嬃坎块T進(jìn)行計量。
- 根據(jù)我們長期積累的經(jīng)驗，試驗過程中應(yīng)特別注意一個現(xiàn)象，即試樣或砧鐵上的細(xì)微的灰塵會明顯地影響試驗結(jié)果（灰塵由于靜電會吸附到試樣上）。由于儀器的分辨率是0.1μm，即使是非常細(xì)小的灰塵也會影響測試精度。測試試樣時，如果某個測試結(jié)果明顯大于平均值，極有可能試樣上有灰塵。此時，應(yīng)取下試樣，然后對零點(diǎn)進(jìn)行測試，如果零點(diǎn)值大大超過0，說明有灰塵吸附在了測量頭或砧鐵上。必須用脫脂酒精棉清潔測量頭和砧鐵，確認(rèn)零點(diǎn)在±0.3μm以內(nèi)后，再繼續(xù)對試樣進(jìn)行測量。
