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C660M電子元器件氣密性檢測(cè)儀采用正壓法測(cè)試原理,往產(chǎn)品內(nèi)充氣,通過觀察一定時(shí)間內(nèi)氣體壓強(qiáng)的變化來判斷電子元器件產(chǎn)品的氣密性。
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