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簡(jiǎn)要描述:金屬片厚度測(cè)試儀(CHY-C2A測(cè)厚儀)采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
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品牌 | Labthink/蘭光 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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金屬片厚度測(cè)試儀(CHY-C2A測(cè)厚儀)
◆設(shè)備型號(hào):PARAM博每 CHY-C2A
◆設(shè)備品牌:Labthink蘭光
◆關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀,薄膜厚度儀,薄膜測(cè)厚儀,紙張厚度測(cè)定儀,厚度測(cè)量?jī)x,厚度計(jì),薄膜厚度測(cè)量?jī)x,薄膜厚度檢測(cè)儀,薄膜厚度測(cè)定儀,薄片測(cè)厚儀,硅片測(cè)厚儀,GB/T 6672,紙張測(cè)厚儀
◆設(shè)備報(bào)價(jià):歡迎客戶來濟(jì)南蘭光咨詢!
◆應(yīng)用范圍:金屬片厚度測(cè)試儀(CHY-C2A測(cè)厚儀)采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
◆技術(shù)特征:
√ 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)接觸面積和測(cè)量壓力,支持各種非標(biāo)定制
√ 測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免人為誤差
√ 支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式
√ 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)
√ 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定
√ 支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能
√ 微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
◆技術(shù)特征:
1、測(cè)試范圍:0~2mm(常規(guī));0~6mm;12mm(可選)
2、分辨率:0.1μm
3、測(cè)量速度:10 次/min (可調(diào))
4、測(cè)試壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
5、接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
◆儀器標(biāo)配:主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
◆生產(chǎn)廠家:濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
產(chǎn)品咨詢
郵箱:marketing@labthink.cn
地址:濟(jì)南市無影山路144號(hào)
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